原子力显微镜(AF，Atomic Force Microscope)，是利用扫描探针(Tip)扫描样品表面，反馈力信号，建立起样品表面形貌图像的一种扫描探针显微技术。它采用细针作为探针，通过感应探针与样品的相互作用力，可以实现对样品表面的高分辨率成像。
原子力显微镜可以观察到物质的形貌、表面和结构等特征，可以观察到纳米尺度下的样品表面形貌和物理特性，也能够揭示物质的性质、生命过程中很多关键行为和现象。它的分辨率可以达到亚纳米量级，是研究新材料、生物化学和纳米科技领域不可缺少的工具。
近年来，随着纳米科技的快速发展，原子力显微镜的应用越来越广泛。它不仅可以用于表面形貌的研究，而且还可以用于研究表面物理性质（如界面反应、摩擦等）、磁学性质、材料力学性质等。
PS：为确保安全，大家在操作时应该遵守安全规范以及相关操作步骤。
